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CIQTEK 国仪量子 HEM6000 高速扫描电子显微镜

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简单介绍

CIQTEK 国仪量子 HEM6000 高速扫描电子显微镜

产品描述

CIQTEK 国仪量子 HEM6000 高速扫描电子显微镜




HEM6000是一款可实现跨尺度大规模样品成像的高速扫描电子显微镜。

采用高亮度大束流电子枪、高速电子偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸没式电磁复合物镜等技术,实现了超快的数据采集和成像速度,同时保证了纳米级分辨率。

面向应用场景的自动化操作流程设计,使得大面积的高分辨率图像采集工作更高效、更智能。成像速度可达常规场发射扫描电镜的5倍以上。




产品优势
高速自动化
全自动上下样流程和采图作业,综合成像速度优于常规场发射扫描电镜的 5 倍
大场低畸变
跟随扫描场动态变化的光轴,实现了更低的场边缘畸变
低压高分辨
样品台减速技术,实现低落点电压,同时保证高分辨率
应用领域
半导体工业
生命科学
材料科学
地质科学
指标 HEM6000 常规场发射扫描电镜
像素尺寸(单张) 12288*12288
像素点时间 40 ns(点/行/帧平均数:2/2/1) 800 ns
像素大小 16 nm
拍摄总面积 2 .62mm²

拍摄总时间

21分34秒 >190分
产品参数
关键参数 分辨率 1.3nm@3 kV,SE ; 1.5nm@1 kV,SE
1.9nm@ 3 kV, BSE; 2.3nm@ 1 kV, BSE
0.9nm@30kV,STEM
加速电压 100 V~6 kV(减速模式)
6 kV~30 kV(非减速模式)
放大倍率 66~1,000,000x
电子枪类型 高亮度肖特基场发射电子枪
物镜类型 浸没式电磁复合物镜
偏转系统 静电偏转器
样品装载系统 真空系统 全自动控制,无油真空系统
样品监控 样品仓监控水平摄像头; 换样仓监控垂直摄像头
样品*大尺寸 直径4英寸
样品台 类型 电机驱动3轴样品台(*可选配压电驱动样品台)
行程

X、Y轴:110mm;

Z轴:16mm;

重复定位精度

X轴:±0.6μm;

Y轴:±0.3μm;

换样方式 全自动控制
换样时间 <15 min
换样仓清洗 全自动控制等离子清洗系统
图像采集与处理 驻点时间 10 ns/pixel
图像采集速度 2*100 M pixel/s
图像大小 24K*24K
探测器和扩展 标配 镜筒内混合电子探测器
选配 低角度背散射电子探测器
镜筒内高角度背散射电子探测器

明场透射电子探测器

高角/中角/底角暗场透射电子探测器
压电驱动样品台
高分辨大场模式
样品仓等离子清洗系统
6英寸样品装载系统
主动减震台
AI降噪;大图拼接;三维重构
软件 语言 中文
操作系统 Windows
导航 光学导航、手势快捷导航
自动功能 自动样品识别、自动选区拍摄、自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散







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